Etude des propriétés optiques et électriques d’oxyde de zirconium dopé Nickel (Ni), élaborée par la voie sol gel.

Abstract

Les Oxydes Transparents Conducteurs en couches minces d'une manière générale et les films d'oxyde de zirconium en particulier ont des applications potentielles dans de nombreux domaines, essentiellement lorsque l'on a besoin simultanément d'une bonne transparence dans le visible et d'une bonne conductivité électrique. La méthode de tirage sol-gel a été choisie pour élaborer les films de ZrO 2 . Dans ce travail, nous avons préparé des couches minces de ZrO 2 non dopé et dopées 1%,3%, 10% et 20% en nickel. La caractérisation des échantillons de ZrO 2 dopés au Nickel (Ni), est réalisée en utilisant, La diffraction des rayons X, la spectrophotométrie (Ultra-violetvisible), l'infrarouge et la spectroscopie d'impédance complexe. La transmittance varie de 66 % à 88 % et le gap optique (Eg) varie de 3.97 à 3.92 eV. Dans la spectroscopie d'impédance complexe, on obtient un circuit RpCp parallèle, où Cp est la capacité de la couche et Rp sa résistance pour chaque dopage en Ni à partir du diagramme de Niquist, on constate aussi que la résistance RP diminue en augmentant le taux de dopage en Nickel, par contre la capacité CP augmente tout en augmentant le taux de dopage. Les résultats expérimentaux trouvés sont acceptables et ont permis de vérifier que les films minces de ZrO 2 sont relativement homogènes et de bonnes qualités.