ynthèse et étude des propriétés physiques d’une phase delafossite en vue d’applications dans le domaine de l’optoélectronique

Abstract

Le présent travail a permis tout d’abord d’ajuster les paramètres d’élaboration par voie sol-gel de trempage tirage de durée de traitement thermique (15mn ;30mn ;1H ;2H) de delafossite(CuFeO2) afin d’obtenir des couches homogènes. Les diffractogrammes de diffraction des rayons X montrent une structure delafossite avec une orientation préférentielle selon la réflexion (012). La taille moyenne des grains des échantillons varie de 31.87 nm pour le CuFeO2recuite en 15 mn, à 50.84pour le CuFeO2 recuites en 2 heures à 500°C.Les spectres infrarouges à transformée de Fourier (FTIR) représentaient une vibration de liaison du delafossite CuFeO2 est de l'ordre de 590 cm -1 , à 1020 cm-1 ,. Tous les films ont présenté une transmittance élevée dans la plage visible supérieure à 85% et la bande interdite (gap optique Eg) diminue de la valeur 3.50 eV pour le CuFeO2 pour une durée de 15 min jusqu’à la valeur de 3.39 eV pour le CufeO2 recuit à 2heures. Les mesures d'impédance montrent que le circuit équivalent des échantillons est un RpCp où Cp est la capacité de la couche et Rp sa résistance.