Elaboration et caractérisation des couches minces d?oxyde de titane (TiO2) dopés cuivre par voie sol-gel pour les applications en photovoltaique

Abstract

Le travail présenté dans ce mémoire a porté sur l'élaboration et la caractérisation des films minces de TiO2 dopé au Cuivre. Dans cette étude, les propriétés structurales optiques,et électriques des couches minces d?oxyde de titane (TiO2) dopées et non dopé au Cuivre ont été préparées par la méthode sol-gel et déposées selon le procédé dip-coating sur des substrats en verre (pyrex) et en silicium. Les propriétés structurales, optiques, et électriques des échantillons des d?oxyde de titane non dopés et dopés 3%, 5%, et 10% en Cuivre ont été analysés par Diffraction des rayons X (DRX), par Spectroscopie (UV-Visible), par Spectroscopie infrarouge (FTIR), par la Spectroscopie d?impédance complexe et par courant tension (I-V) La structure des films est celle d'une phase anatase avec une orientation préférentielle suivant l'axe (101). Les spectres de transmission des couches minces d?oxyde de titane montre que les films minces d?oxyde de titane sont transparents dans les visibles et opaques dans l?UV.