Détection et Localisation des Défauts dans les Onduleurs à MLI par la Logique Floue

Abstract

Le progrès de l'électronique de puissance basé essentiellement sur les convertisseurs statiques, dans les différents domaines, ne cesse d'augmenter. Parallèlement, il y avait énormément d'efforts scientifiques et techniques déployés pour la mise en place de techniques permettant la surveillance et le diagnostic des défauts pour éviter tous dysfonctionnement des systèmes électriques. L'objectif principal de notre étude consiste à effectuer un diagnostic adéquat pour les défauts d'un circuit ouvert et court-circuit des interrupteurs (IGBT) d'un onduleur à MLI. En se basant sur deux méthodes de diagnostic avec connaissance à priori et sans connaissance à priori.