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http://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/14067| Titre: | Analyse structurale des matériaux par deux approches : La diffraction des rayons X et la modélisation moléculaire |
| Auteur(s): | Belhocine, Fatma |
| Mots-clés: | Affinement de Rietveld Diffraction des RX par les poudres, |
| Date de publication: | 2023 |
| Résumé: | Dans ce travail, nous avons réalisés un affinement de structure cristalline par la méthode de Rietveld, deux composés en poudres de type l’oxyde De Chrome ACr2O4 (A=Cu ou Ni), La simulation du diagramme de diffraction des RX par cette méthode montre que ces composés cristallisent dans deux systèmes différents : le système tétragonal pour l’oxyde de chrome dopé cuivre (CuCr2O4), tan dis que le NiCr2O4 cristallise dans le système cubique. |
| Description: | In this work, we carried out a crystal structure refinement by the Rietveld method, two compounds in powders of the Chromium oxide type ACr2O4 (A=Cu or Ni), The simulation of the X-ray diffraction diagram by this method shows that these compounds crystallize in two different systems: the tetragonal system for copper-doped chromium oxide (CuCr2O4), while the NiCr2O4 crystallizes in the cubic system |
| URI/URL: | http://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/14067 |
| Collection(s) : | Master |
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