Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/14067
Title: | Analyse structurale des matériaux par deux approches : La diffraction des rayons X et la modélisation moléculaire |
Authors: | Belhocine, Fatma |
Keywords: | Affinement de Rietveld Diffraction des RX par les poudres, |
Issue Date: | 2023 |
Abstract: | Dans ce travail, nous avons réalisés un affinement de structure cristalline par la méthode de Rietveld, deux composés en poudres de type l’oxyde De Chrome ACr2O4 (A=Cu ou Ni), La simulation du diagramme de diffraction des RX par cette méthode montre que ces composés cristallisent dans deux systèmes différents : le système tétragonal pour l’oxyde de chrome dopé cuivre (CuCr2O4), tan dis que le NiCr2O4 cristallise dans le système cubique. |
Description: | In this work, we carried out a crystal structure refinement by the Rietveld method, two compounds in powders of the Chromium oxide type ACr2O4 (A=Cu or Ni), The simulation of the X-ray diffraction diagram by this method shows that these compounds crystallize in two different systems: the tetragonal system for copper-doped chromium oxide (CuCr2O4), while the NiCr2O4 crystallizes in the cubic system |
URI: | http://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/14067 |
Appears in Collections: | Master |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
TH.M.CHI.2023.12.pdf | 4,62 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.