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dc.contributor.authorFILALI, Hanane-
dc.contributor.authorSOFRAN, Saida-
dc.date.accessioned2022-10-20T14:47:25Z-
dc.date.available2022-10-20T14:47:25Z-
dc.date.issued2015-06-14-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tiaret.dz:8080/jspui/handle/123456789/2564-
dc.description.abstractLe travail présenté dans le cadre de ce mémoire concerne la détermination de la distribution de la densité électronique de composé de formule chimique C15H14N2 à partir d’un spectre de diffraction des rayons X haute résolution sur monocristal de ce composé. Cette détermination exige tout d’abord un enregistrement de très bonne qualité du spectre de diffraction des matériaux étudiés, suivi d’un traitement approprié de ces intensités. ce travail est constitué essentiellement de quatre parties distinctes : La première partie consacrée à l’étude de la nature des rayons X et la procédure de production ainsi que l’interaction de ces rayonnements avec La matière (loi de Bragg), On a également cité les déférentes méthodes de calcul théorique tel que (DFT–AM1), La deuxième partie présente le dispositif expérimental et les étapes qu’on a entamées pour enregistrer et traiter le spectre de diffraction des rayons X pour la résolution et l'affinement de structure cristalline. La troisième partie développe la détermination de la structure cristalline, qui se fait en deux étapes: la résolution puis l’affinement de la structure et l’analyse structurale de la molécule. Au cours de la résolution et l’affinement de la structure on a utilisé les deux programmes suivants [gaussian] et [mopro]. La résolution de la structure conduit aux coordonnées des positions xj ,yj ,zj , mais le plus intéressant pour nous les chimistes c’est la disposition des atomes les uns par rapport aux autres, à cet effet ,on décrit la structure par ces longueurs de liaisons et angles de valences ainsi que les angles de torsion. La dernière partie réservée à l’analyse de la distribution de la densité électronique sur les déférents plans de la molécule. Nous utilisons les paramètres structuraux, positionnels et thermiques obtenus par l’affinement pour établir les cartes de la densité électronique dans le plan de la molécule C15H14N2.en_US
dc.language.isofren_US
dc.publisheruniversité ibn khaldoun-tiareten_US
dc.subjectGENERALITES SUR L’ANALYSE DE LA DENSITE DE LA CHARGE,PROPRIETES OPTIQUE NON LINEAIRE(ONL),ANALYSE EXPERIMENTALES DE LA DISTRIBUTIONDE CHARGE DE LA MOLECULE DMACB,ANALYSE THEORIQUE DES PROPRIETES STRUCTURALSELETRONIQUE ET OPTIQUE NON LINEAIRE,en_US
dc.titleÉtude des propriétés structurales et optiques non linéaires du composé DMACB par deux méthodes : La diffraction des rayons X et les calculs théoriquesen_US
dc.typeThesisen_US
Collection(s) :Master

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