Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/16998
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dc.contributor.authorMESSANI, Mohamed Amine-
dc.date.accessioned2026-03-03T08:22:22Z-
dc.date.available2026-03-03T08:22:22Z-
dc.date.issued2025-06-24-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tiaret.dz:80/handle/123456789/16998-
dc.description.abstractLes rayons X et les plateformes d’analyse (comme le logiciel HighScore Plus) constituent un ensemble essentiel au développement des avancées scientifiques et technologiques. Grâce à leur capacité à traverser la matière (un degré de pénétration très élevé), les rayons X sont devenus des outils incontournables pour la caractérisation des matériaux dans divers domaines.en_US
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversité Ibn Khaldoun –Tiareten_US
dc.subjectrayons Xen_US
dc.subjectoxydes Métalliquesen_US
dc.subjectDRXen_US
dc.subjectlogiciel High Scoreen_US
dc.titleInterprétation et analyse des diffractogrammes des rayons Xen_US
dc.typeThesisen_US
Collection(s) :Master

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