Navigation de collection par Sujet le silicium Techniques de dépôt des couches minces,Techniques de caractérisation.
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Date de publication | Titre | Auteur(s) |
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2014-06-17 | Etude microstructurelle du silicium nanocristallin hydrogène déposé par pulvérisation cathodique magnétron radio fréquence (RFMS) | Aouinet, Mechri |